數(shù)字接地電阻的測量方法？

康登電力專業(yè)生產(chǎn)接地電阻測試儀（又稱數(shù)字式接地電阻儀）下面就我簡單介紹接地電阻儀幾種使用方法？

一、深度方法的變化

這些替代方法之一是深度變化，或三點法。在這里，接地電阻測量與接地棒深度的增量增加相關地重復。這種技術迫使更多的測試電流通過深層土壤，并且可以注意到每個深度的電阻率變化。驅動桿還可以確認安裝過程中可以驅動多深。然而，一個缺點是桿在被驅動時可能會振動，從而減少與土壤的接觸并使真實視電阻率的轉換不太準確。

深度變化法提供了有關桿附近土壤的有用信息，通常取桿長度的 5 到 10 倍。對于大面積區(qū)域，在代表性位置進行多次測試以繪制橫向變化是有用的，這樣最終接地網(wǎng)就不會安裝在電阻率高于該區(qū)域的土壤中。

所關注的電阻被指*為r 1。進行一系列三個兩點測量，作為被測電極與兩個輔助電極中的每一個之間的電阻，指*為r 2 和r 3。這三個測量結果將是r 12 = r 1 + r 2等。

測試棒的電阻可以計算為：

r 1 = [r 12 – r 23 + r 13 ] /2。

如果輔助電極的電阻明顯高于測試電極，這將大大放大測試結果的誤差。因此，電極需要相距足夠遠，以最小化相互電阻。在使用的距離不足的情況下，有時可以計算出諸如零電阻和負電阻之類的荒謬情況。因此，輔助桿與試驗桿的距離應至少為試驗桿深度的三倍。輔助桿應被驅動到與測試桿相同的深度，甚至更小。這種方法可能難以應用于大型系統(tǒng)和需要高精度的地方，因此可能選其他方法。

二、四點法

一次使用四點法比較困難，主要是涉及更多的空間和更長的線索。在其粗略的形式中，該方法需要一個電流源和一個電位計或高阻抗電壓表。但是現(xiàn)代儀器在幫助操作員減少步驟和消除錯誤方面已經(jīng)變得非常復雜。一些儀器甚至在屏幕上繪制設置并執(zhí)行伴隨的數(shù)學運算。但是，在獲取測試儀器時必須記住的一件事是它必須是四端子模型。存在三端子測試儀，用于執(zhí)行接地電阻測試。對于電阻率測試，必須使用四端子模型。

三、溫納法

迄今為止，應用*泛的四點法是溫納法。這在之前的文章中已經(jīng)描述過，這里只涉及到。適用的測試儀具有開爾文電橋配置。兩個外部電流端子通過土壤施加測試電流。兩個內部電壓端子測量它們之間的電壓降，電流和電壓參數(shù)用于計算電壓探頭之間的電阻，然后顯示在顯示屏上。四個探頭等距分布。

然后使用溫納公式 2πaR（其中a是電壓探針之間的距離）來計算電阻率，通常以 Ω-cm 為單位，但如果需要，也可以使用其他長度單位。這是平均土壤電阻率的深度一。全溫納公式較為復雜，但簡化前述如果1/20的探針深度日的一個被使用。

通過系統(tǒng)地改變a，可以實現(xiàn)所謂的垂直勘探。也就是說，可以繪制不同深度電阻率的變化，有助于識別基巖等重大變化。

盡管普遍使用，溫納方法有兩個缺點。

1. 兩個內部（電位）電極之間相對較大的間距會導致電位幅度下降。這可能看起來違反直覺，但請記住，測量電壓降所依據(jù)的測試電流向各個方向擴散，而不是像電線那樣呈直線。現(xiàn)代測試儀的靈敏度不斷提高，這有助于減輕這一缺點。

2. 第二個缺點是溫納法需要移動所有四個探頭才能測量不同的深度。探頭間距較大時，來回走動會變得令人望而卻步。

四、斯倫貝謝方法

使用斯倫貝謝方法，內部（電勢）探頭放置得更近。然后僅移動外部探頭以計算不同深度的電阻率。

如果探頭的深度 ( b ) 與間距 ( c和d )相比保持較小且c大于 2 d，則可以計算電阻率：

ρ = πc( c + d ) R/d

這會產(chǎn)生近似深度 [2 c + d ]/2 的視電阻率，即從測試中心到外部電流探頭的距離。

通過使用與先前設置成 90 度的探針重復測試，可以獲得對兩種方法結果的信心。讀數(shù)應該基本相同。這將有助于消除來自水管、巨石、電力線等的地下干擾，以免過度影響測量。

五、比較方法

深度變化法可通過以下公式計算電阻率：

ρ a =[R2πl(wèi)]/[ln(4l/r)-1]

對于測試棒被驅動到的每個長度 ( l ) ，測得的電阻值R確定視電阻率值ρ a。這里，r只是被測桿的半徑，并且相對于l保持很小。將R與l作圖可以直觀地幫助確定地球電阻率與深度的關系。更深層的良好導電性對于有效和可靠的閃電和故障清除是優(yōu)選的，因為表面導電性可能不穩(wěn)定。并且如前所述，深度的變化會產(chǎn)生測試棒周圍相對較小區(qū)域的數(shù)據(jù)。收集大網(wǎng)格的數(shù)據(jù)最好采用四點法。

同樣，四點法的結果可以繪制為測量的視電阻率與電極間距的關系。土壤結構可以從得到的曲線中估計出來，但現(xiàn)場工作人員已經(jīng)建立了一些經(jīng)驗規(guī)則來幫助識別層。

• 曲率的中斷或變化表示另一層。

• 下層的深度取為發(fā)生拐點處的電極間距的三分之二。

• 可以遵循五個公理：

1. 計算出的視電阻率始終為正。

2. 當實際電阻率隨深度增加或減少時，視電阻率隨探頭間距增加或減少。

3. 視電阻率的最大變化發(fā)生在探頭間距大于實際電阻率發(fā)生相應變化的深度處。因此，視電阻率的變化總是繪制在探頭間距的右側，對應于實際電阻率的變化。

4. 曲線幅值始終小于或等于實際電阻率對深度曲線的幅值。

5. 在多層模型中，厚層實際電阻率的變化會導致視電阻率曲線的類似變化。